半導體風冷快速溫變試驗機

半導體風冷快速溫變試驗機

產品介紹：

快速溫度循環(huán)試驗箱是一臺可以快速做高溫、低溫、高低溫循環(huán)交變試驗的箱子，它快的速度可以每分種升降溫20℃，當然也可以根據顧客的要求選擇非標設計定制出符合國標參數的箱子。非標定制升降溫速度可選擇線性或者非線性2℃／min、3℃／min、4℃／min、5℃／min、6℃／min、7℃／min、8℃／min、9℃／min、10℃／min、15℃／min至20℃／min范圍內可選。尺寸大小可以在廠家提供的6個標準范圍內選擇，也可以把自己要求的寬、高、深（內尺寸）提供給廠家定制。

半導體風冷快速溫變試驗機

是樣品在人工設計溫度強度極限下，柳沁廠家運用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內進行循環(huán)交變時，樣品產生交替的膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應力，使樣品中產生熱應力和應變，通過加速溫變應力來使?jié)摯嬗跇悠返蔫Υ酶‖F[潛在樣品零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該樣品在使用過程中，受到環(huán)境應力的考驗時而導致失效或者故障，造成不必要的重大損失，對于提高樣品出貨質量與降低故障返修次數有著明顯的效果，另外快速溫度變化本身是一種制程階段的過程，而不是一種可靠度試驗，所以快速溫度循環(huán)試驗箱是對產品進行的程序測試的選擇。

符合標準：

GJB/150.3A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。

GJB/150.4A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗。

GB/T 5170.1-2008  電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則。

GB/T 2423.3-2006  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗。

GB/T 2423.4-2008  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。

GJB/150.9A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗。

GB/T 2423.1-2008  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。

GB/T 2423.2-2008  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫。

GB/T 2423.22-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化。

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗箱技術條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗箱技術條件。