步入式高溫老化房的溫度范圍：-40～120℃是客戶的設備溫度范圍要求，尺寸根據顧客給的內箱尺寸，大型的就做成人可以步入進去的，所以叫高低溫步入式試驗箱。小型的則做成箱式的就叫高低溫試驗箱。濕度范圍就做成客戶的-40℃～120℃，中間任意一個溫度都可以恒定或者交變做試驗。當然如果此溫度范圍滿足不了的一些顧客還可以定做更大的溫度范圍如-70℃～150℃或者更小的溫度范圍如-20℃～85℃等要求均可非標定制。
步入式高溫老化房適用范圍：
是常用于通訊、光電、LED、電子等產品(如：光電產品、機算機整機或零配件、顯示器、觸摸屏、終端機、車用電子產品、主機板、電源供應器、監(jiān)視器、交換式充電器、手機、電腦、照相機、電話機等)仿真出一種高溫、低溫、高低溫交變、恒定、循環(huán)等惡劣溫度環(huán)境測試的設備，是提高產品可靠性、穩(wěn)定性的重試驗設備、是各生產企業(yè)提高產品質量和競爭性的重要試驗環(huán)節(jié)，高低溫步入式試驗箱、溫度范圍：-40～120℃廣泛生產企業(yè)的實驗室、國家計量院、研究所、高校實驗室、第三方檢測機構等領域。
步入式高溫老化房設備結構
外框架構采用雙面彩鋼保溫庫板組合而成，大小尺寸可根據客戶要求訂制，根據不同的要求來進行配置。步入式試驗箱主要由箱體、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)風循環(huán)系統(tǒng)、時間控制系統(tǒng)、測試負載等組成。通過高低溫老化測試，可檢查出不良品或不良件，為顧客迅速找出問題并解決問題提供了有效的手段，充分提高了顧客生產效率和產品品質。
符合標準:
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗
GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求
產品型號：LQ-RM
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