HAST非飽和高壓老化蒸煮爐試驗箱設(shè)備半導(dǎo)體測試最早是為了替代傳統(tǒng)的高溫高濕測試（THB: Temperature-Humidity-Bias） 和高壓蒸煮 測試（PCT: Pressure Cooker Test） 而發(fā)展起來的。THB 測試時間太長（通常 1000 小時）， 而 PCT 的濕度是 100%RH（凝結(jié)水），與實際環(huán)境有差異。

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